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光學(xué)測(cè)厚儀
Ametek（阿美特克）：美國(guó)品牌重慶掃描色差儀報(bào)價(jià)，提供包括在線和離線類型在內(nèi)的各種類型的測(cè)厚儀重慶掃描色差儀報(bào)價(jià)，滿足不同用戶的需求。Flir（費(fèi)勒爾）：美國(guó)品牌，其紅外測(cè)厚儀非常著名，適用于需要非接觸式測(cè)量的場(chǎng)景。ZEISS（蔡司）：德國(guó)品牌，以其出色的光學(xué)測(cè)厚儀而聞名，適用于對(duì)精度要求極高的測(cè)量任務(wù)。
光學(xué)薄膜測(cè)厚儀的核心技術(shù)介紹和原理說(shuō)明：SpectraThick系列的特點(diǎn)在于其非接觸式、非破壞性的測(cè)量方式，無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行任何預(yù)處理。該系列儀器支持Windows操作系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)便。ST系列專門(mén)用于測(cè)量wafer、glass等基片上形成的氧化膜、氮化膜、光刻膠等非金屬薄膜的厚度。
厚度儀：這是專門(mén)用于測(cè)量厚度的儀器，根據(jù)工作原理不同有超聲厚度儀、磁性厚度儀等。超聲厚度儀通過(guò)超聲波在材料中的傳播時(shí)間來(lái)測(cè)量厚度，可測(cè)各種材料重慶掃描色差儀報(bào)價(jià)；磁性厚度儀適用于測(cè)量磁性基體上非磁性涂層的厚度。
光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 (SpectraThick Series) 的核心技術(shù)介紹和原理說(shuō)明 SpectraThick series的特點(diǎn)是非接觸， 非破壞方式測(cè)量，無(wú)需樣品的前處理，軟件支持Windows操作系統(tǒng)等。ST series是使用可視光測(cè)量wafer，glass等substrates上形成的氧化膜，氮化膜，Photo-resist等非金屬薄膜厚度的儀器。
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